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Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

Expediente S-AB/2025/000185

Publicada

Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid

Presupuesto sin IVA: 705.850,00 €
Plazo de presentación: 24/07/2025 · confirma la hora en la fuente oficial
Ubicación: Madrid (ES300)

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Documentación clave

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2 docs

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Técnicos: 1 · Administrativos: 1 · Adicionales: 0

Órgano de contratación

Nombre

Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid

NIF/CIF

Q2818014I

DIR3

U01000001

Ubicación

Avda. de Séneca, 2, Madrid, 28040

Localidad

Madrid

Contacto

Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid

scont@ucm.es

Teléfono

913943477

Org. superior

Universidad Complutense de Madrid > Comunidad de Madrid > UNIVERSIDADES > OTRAS ENTIDADES DEL SECTOR PÚBLICO > Sector Público

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Datos económicos

Presupuesto base (sin IVA)

705.850,00 €

Presupuesto con IVA

854.078,50 €

Importe de adjudicación

705.850,00 €

Ofertas recibidas

Porcentaje de garantía

Clasificación

Tipo de contrato

Suministros

Procedimiento

Abierto

CPV principal

38511100

Ubicación (NUTS)

Madrid (ES300)

Subtipo

Forma de presentación

Electrónica

Sistema de contratación

Código de origen: 0

Urgencia

Ordinaria

Árbol CPV principal

Equipo de laboratorio, optica y precision›CPV 38511100

Plazos y fechas

Horas en zona peninsular (Europe/Madrid), a partir de los datos recibidos. Confirma el plazo en el anuncio oficial.

Plazo de presentación

24/07/2025 · confirma la hora en la fuente oficial

Disponibilidad de docs.

No indicada

Duración estimada

6 meses

Inicio previsto

No indicada

Fin previsto

No indicada

Fecha de publicación

25/06/2025

Última actualización

25/06/2025, 10:44

Adjudicatario

Empresa

FEI Europe BV Sucursal en España

NIF/CIF

W0032378B

Importe adjudicado

705.850,00 €

Criterios de adjudicación

Presencia de sistemas de compensación de la carga durante el uso del haz de ionesPeso: 3

PRECIOPeso: 51

Extensión del plazo de garantíaPeso: 5

Se valorará si permite la captura de imágenes con resolución al menos de 65kx65kPeso: 2

Versatilidad del portamuestras, teniendo en cuenta el número de posiciones disponiblesPeso: 2

Licencias infinitas del procesado del sistema EDXPeso: 5

Detector extra (adicional a los detectores en el PPT) en cámaraPeso: 5

Versatilidad en cuanto al número de segmentos y la composición de señales del detector BSE en cámaraPeso: 2

Sistema de afilado de la punta que esté totalmente integrado en el softwarePeso: 2

Grado de automatización del proceso de fabricación de lamellaPeso: 5

Capacidad del equipo para soldar la lamella a la rejilla sin necesidad de usar deposición de ningún tipoPeso: 2

Sistema de limpieza por plasma acoplado a la cámaraPeso: 5

Grado de integración de todos los elementos del suministro dentro del software de control del FIBPeso: 4

Versatilidad del equipo en cuanto a que permita registrar imágenes SEM y STEM en tiempo realPeso: 3

Disponer de Software de programación mediante PythonPeso: 2

Versatilidad del detector STEM atendiendo especialmente al número de sectores y los modos de toma de imagen en STEMPeso: 2

Documentos (2)

Pliego técnico

Pliego de Prescripciones Tecnicas.PDF

Abrir

Pliego administrativo

PCAP.PDF

Abrir

Condiciones de licitación

Garantía

Programa de financiación

Financiado por Comunidad Madrid y cofinanciado UE

Idioma

Variantes permitidas

Requisitos de solvencia

technical — Capacidad de obrar

Historial de cambios

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